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易捷测试半导体在片测试系统集成解决方案:
1)晶圆级抗X射线辐照系统
2)毫米波多功能MMIC自动测试
3)射频在片测试
4)半导体在片测试系统
5)光子芯片在片测试
6)EMMI测试系统,
7)太赫兹半导体在片测试系统
8)可靠性测试
9)失效分析
10)直流参数测试
11)小信号测试
12)大信号测试
型号:
1,PHA-X/PNA/PNA-L/PXIVNA
2,Keysight X系列,BSA
3,Keysight infinivision系列、Infiniium系列
4,E4900/E4991B
5,B1500A
6,MPI TS300|TS200|TS200L
7,GX200
8,N5261A
9,T110
毫米波探针台:TS-150THZ 150mm手动探针台
准确无误mm-wave毫米波和亚毫米波太赫兹(THz)频率范围内的测量单机多应用设计。无缝整合各种宽带毫米波模块,适合多种微波/毫米波应用测试。
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硅光子自动探针系统: TS3000-SiPH
领先的硅光子自动测试解决方案
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200mm自动探针台:TS2000-SE
精准可靠的射频和微波测量,失效分析,可靠性测试
1,网络分析仪
2,信号分析仪
3,示波器
4,阻抗分析仪
5,半导体参数分析仪
6,探针台
7,晶圆级抗辐照电路测试系统
8,频率扩展模块
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10,高精度电动探针座
11,在片测试软件