深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。深圳市易捷测试技术有限公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。TSK硅片探针台UF3000EX-e产品介绍：1、基于东京精密机台改造升级，具有精度高、低振动、高吞吐量、高可靠性、操作简单、高兼容性等特点2、软件自主可控，更好地服务于客户实际应用测试场景3、本地化服务，提供专业全面的技术支持和可靠的售后保障利用XY阶段的协同效果而达成高生产量，并且借由高速晶圆处理和独家驱动单元创造高速和优良的无声性。此外，Z轴可达成世界至高标准的负载度和高精确度。它採用具备原始可操作性的大显示屏幕，因此可进一步改善可操作性。它可接纳每一种针测环境，并结合了广泛多样选择的弹性。

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。易捷测试成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和全方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。易捷测试紧跟趋势，拥有各类不同晶圆级测试探针台在片集成技术。为各大高校，研究院，企业提供集成电路晶圆测试（WaferProb）系统集成解决方案，设计验证分析，测试软件开发服务。易捷测试提供的技术解决方案包括：半导体微波THz在片方案、光电芯片测试系统解决方案、高低温环境下的EMMI测试、硅光芯片晶圆级在片测量，X光辐照总剂量晶圆级测试系统（自主专利）、射频晶圆测试（WaferProbe）、射频芯片测试、晶圆到芯片封装设计验证分析检测设备、射频晶圆测试软件开发。

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。从CP到FT的一条龙软件整合和数据共享：从CP测试生成wafermap开始，wafermap贯穿后续整个工艺流程，数据可追溯。全自动一条龙微波在片和封装器件封测系统特点1，测试数据全线共享，提高效率，减少重复环节，根据需求提供数据分析工具和报表2，全自动一条龙微波在片和封装器件封测系统特点3，系统测试链路自动校准标定4，可以选用高密度PXI设计，实现射频，数字，模拟，电源测控一体化，具备柔性测试能力5，测试完成后自动分选6，自动化测试序列的设定7，全产线设备接口通过ATE打通，实现全参数共享和控制，接轨智能制造8，通过异步并行的处理方式提高测试效率

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。易捷测试（GBITEST）集成TS3000-SiPh的高端探针台与Keysight的仪器相结合，可提供自动对准和同步光学光学和光电设备测试。TS3000-SiPH硅光自动探针台TS3000-SiPH硅光自动探针台功能集提供：●高精度光纤对准系统，在双定位或单定位设置中为单个或光纤阵列提供更大的灵活性●通过将晶圆包括在光纤接近检测和光纤防撞中，实现更安全的操作●推荐的器件测试温度为-40...100°C;系统性能-60...300°C●通过在专配测量架中集成额外的硅光子仪器，更大限度地减少系统占用空间

荣获2009年度全球SMT技术授于的X-ray设计奖。深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界闻名厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。Cheetah专家级智能检测平台我们目前提供的用于失效分析之X射线检测设备微焦点X-ray产品CHEETAH有如下功能：●高速平板探测器●µCT-能力●大尺寸样品的检查●Zoom+技术●Power●driver技术●16位的实时影像处理用于失效分析之X射线检测设备微焦点X-ray产品CHEETAH被国内各大实验室使用：华测检测中心、中兴通讯、爱默生能源、Epcos、Cree、美的等产品详情：1，大型可动样品盘2，矩阵样品排列检测3，卷帶样品自动检测4，大型样品观察窗口5，大型自动门6，气垫防震系統7，高速平板探测器8，高功率9，PowerDriveX射线密度技术10，FeinFocus开放式射线管11，TXI实时X射线強度控制12，模块化平台设计应用领域：SMT和PTH封装、印刷电路板、IGBT、晶圆检测、三维集成电路、传感器、MEMS和MOEMS、TSV

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。芯片分拣机是按照预先设定的计算机指令对芯片进行分拣，并将分检出的芯片送达指定位置的机械，模块化设计、可检多种陶瓷片缺陷、满足客户定制Tray盘、自动分装良品、自由设定机制、极薄芯片可操作、可视化软件系统......易捷测试提供芯片分拣机Chippickandplace，高速捡薄片机，晶圆分拣机，全自动分检机。芯片分选机|晶圆分拣机Sorter|AP-600、晶圆捡片机|AP-600+DieSorting。模块化设计、可检多种陶瓷片缺陷满足客户定制Tray盘自动分装良品自由设定机制极薄芯片可操作可视化软件系统满足4-8寸晶圆进料低维护成本高速捡片

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界闻名厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。关于BGA植球BGA植球即球栅阵列封装技术，该技术的出现便成为CPU、主板南、北桥芯片等高密度、高性能、多引脚封装的上佳选择。虽然该技术的I/O引脚数增多，但引脚之间的距离大，从而提高了组装成品率。而且该技术采用了可控塌陷芯片法焊接，从而可以改善它的电热性能。另外该技术的组装可用共面焊接，从而能大大提高封装的可靠性；并且由该技术实现的封装CPU信号传输延迟小，适应频率可以提高很大。易捷测试专业提供封装工艺设备及检测解决方案，半导体领域包括研磨设备/激光应用设备/装片及分选/值球植柱/2D3D光学检查/系统自动化等。

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。静电放电(ESD:ElectrostaticDischarge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS:ElectricalOverStress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。1）HCE-5000紧凑型ESD测试机2）HED-N5000全自动ESD测试系统3）HED-C5000CDM测试机4）HED-T5000TLP测试机5）HED-W5000M晶圆ESD测试机6）HED-W51000D全自动晶圆ESD测试机

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。易捷测试（GBIT）致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装系统以及材料测试等系统集成方案。特别是我们提供的探针台系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件测试，硅光子测试、晶圆级失效分析、芯片光耦合，霍尔测试，CP测试等晶圆测试环节。经营产品包括：（1）大功率探针台；2）150mm探针台；3）200mm自动探针台；4）300mm全自动探针台，5）6寸手动探针台，8寸自动探针台，12寸自动探针台，6）在片测试，7）探针台控制软件；8）高低温探针台；9）探针台CASCADE；10）全自动探针台；11手动探针台；12）半自动探针台；13）太赫兹探针台；14）毫米波探针台；15）硅光探针台；16）辐照探针台；17）高压高流测试系统，18）CP测试系统；19）射频探针台。

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。作为信息探测工具来说，探针是一种测试接口，主要对裸芯进行测试，连接测试机和芯片，通过传输信号对芯片参数进行测试。易捷测试提供MPI高功率探针，Kelvin探针，RF射频探针，还有纳米探针。包括：●26GHz射频探针T26●HP射频探针T26P●40GHz射频探针T40●50GHz射频探针T50●67GHz射频探针T67●110GHz射频探针T110●26GHz射频探针T26D●220G高频探针●开尔文探针纳米探针：ØDC，C-V，脉冲IV，SCM测量ØPicoCurrent识别故障候选者Ø自动探针对准和探针交换Ø自动探头着陆Ø敏感样品无电子束偏移Ø指导的工作流程，用于简单的晶体管探测Ø无真空室

倒装焊技术是指IC芯片面朝下，与封装外壳或布线基板直接互连的一种技术。又称倒扣焊技术。该机器是半自动倒封装键合机，采用手动的方式取放管壳和芯片托盘，管壳吸取头从托盘吸取管壳放入搭载台,芯片翻转头从托盘吸取芯片,翻转后传给搭载头。搭载头从背面吸着芯片，先移动到记录摄像头上方，对芯片搭载面拍照记录，之后依靠上下视野视觉对位系统自动对芯片和管壳进行定位，芯片蘸取助焊剂后，再加热加压把芯片和管壳焊接在一起.另外,交换超声波键合头,可以对应超声波键合.还可对应无需加热加压的芯片正装贴合工艺.可对应共晶焊工艺。晶圆倒装焊机键合机

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。易捷测试专业提供封装工艺设备及检测解决方案，半导体领域包括研磨设备/激光应用设备/装片及分选/值球植柱/2D3D光学检查/系统自动化等。

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。功能：用于芯片到基板的精密倒装焊接工艺。标准配置加热加压的焊接方式，可选配超声波焊接特点：可实现超高贴装精度兼容超低载荷和超高荷重能达到超高贴装温度可自动更换压头治具功能：可以实现wafer-wafer，wafer-tray，tray-wafer之间的分拣特点：可选择对应厚度100微米以内的超薄芯片可追加正反面视觉检查功能

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。易捷测试提供精密贴片机：芯片封装的一个关键工艺过程。为后序的金线键合做准备。是SMT上必用的设备1。芯片检查精密贴片机2，精密芯片贴片机

深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等世界品牌厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。易捷测试提供AOI-wafer光学检查机晶圆光学检查机，简称AOI，可取代人工检查，达到检测一致性并缩短检测时间，大幅提升产能与产品质量的重要关键，操作员不接触wafer，避免了污染和损伤wafer。检查晶圆类别：崩边、破裂、划痕、刮伤、变色、保护层缺失、外来物、桥接等。

易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量保证都是必不可少的。1）HCE-5000紧凑型ESD测试机2）HED-N5000全自动ESD测试系统3）HED-C5000CDM测试机4）HED-T5000TLP测试机5）HED-W5000M晶圆ESD测试机6）HED-W51000D全自动晶圆ESD测试机

Ø26GHz探针T26频率26GHz射频探针ØHP探针T26P高功率射频探针Ø40GHz探针T40频率40GH射频探针Ø50GHz探针T50频率50GHz射频探针Ø67GHz探针T67频率67GHz射频探针Ø110GHz探针T110频率110GHz射频探针Ø26GHz探针T26D频率26GHz差分射频探针Ø纳米探针纳米探针：ØDC，C-V，脉冲IV，SCM测量ØPicoCurrent识别故障候选者Ø自动探针对准和探针交换Ø自动探头着陆Ø敏感样品无电子束偏移Ø指导的工作流程，用于简单的晶体管探测Ø无真空室

矢量网络分析仪校准套件和部件各种同轴和波导校准套件支持多家矢量网络分析仪的型号支持各种校准技术从直流到110GHz单独提供矢量网络分析仪校准套件中的零部件同轴和波导开路、短路、负载、滑动负载、空气线、失配件、适配器机械式和数字式精密同轴连接器质量检查量规高质量测量电缆、无源器件和部件矢量网络分析仪稳幅稳相高精密测量电缆Stability™稳幅稳相测量电缆Utility™高质量常规测量电缆TestEssentials™实验室级同轴适配器ColorConnect™实验室级色标同轴适配器计量级同轴适配器QT3.5mm™快插拔无螺纹同轴适配器航空级波导同轴适配器从直流到110GHz

1）有源芯片测试负载牵引，2）负载牵引测试原理3）负载牵引系统4）负载牵引技术5）射频功放的负载牵引6）功放负载牵引7）噪声参数测试8）probestation9）loadpull10）高压高流测试系统11）cv测试系统12）放大器性能测试13)tuner14）矢量网络分析仪1）微波测试PNA系列2）射频器件ENA系列3）PNA-B系列4）有源S参数测试....5）PNA-X系列6）台式网络分析仪7）手持式网络分析仪8）USBVNA系列网络分析仪9）网络分析仪分析软件10）毫米波网络分析仪11）矢量网络分析仪（VNA）

深圳市易捷测试技术有限公司，品牌：GBITEST。致力于为用户提供精密的半导体晶圆级在片测试探针台系统和射频微波器件测量系统，微组装系统以及材料测试等系统集成方案。特别是我们提供的探针台系统，已被全球客户广泛地应用于I-V／C-V测试，脉冲I-V测试，RF/mmW测试，高压、大电流测试，MEMS、光电器件测试，硅光子测试、晶圆级失效分析、芯片光耦合，霍尔测试，CP测试等晶圆测试环节。1）大功率探针台2）150mm探针台3）200mm自动探针台4）300mm全自动探针台5）6寸手动探针台，8寸自动探针台，12寸自动探针台6）在片测试7）探针台控制软件8）高低温探针台9）探针台CASCADE10）全自动探针台11）手动探针台12）半自动探针台13）太赫兹探针台14）毫米波探针台15）硅光探针台16）辐照探针台17）高压高流测试系统，cv测试系统

从实验室到生产车间，Sonoscan的先进声学显微镜仪器和技术可以帮助您生产高质量的产品。Sonoscan仪器有着极高的技术含量，并且提供良好的客户服务和支持。Sonoscan超声波扫描显微镜提供多种成像模式，操作员可以根据样品内部取向特征获得有关检验样品的良好透Ø视图。此外，通过利用产品专有先进功能，Sonoscan可以提供最佳的图像、较高的效率和理想的结果。Ø超声波扫描显微镜D9600™C-SAMØGEN6™C‑SAM声学显微镜ØD9600Z™C‑SAMØJ610

邦定强度测试仪4000PlusBondtester第二代NordsonDAGE4000Plus是市场上最先进的焊接测试仪。DAGE4000推拉力测试机是半导体和PCBA制造市场的行业标准,它拥有多项功能，应用操作中可执行所有推拉力和剪切力的测试操作。其标志产品是DAGE4000焊接强度测试仪和DAGEX-ray产品系列，可以用于破坏性和非破坏性机械测试，以及电子元件的检测。DAGE4000Plus键合强度和剪切强度测试仪拥有250毫克到500公斤的测试范围，可以适应标准及专业测试要求。4000Plus以DAGE4000推拉力测试仪为基础，同时保证了机器之间的数据关联性。新一代的Paragon软件同样适用于DAGE4000推拉力测试机。4000Plus以其良好的精度和稳定性，成为目前市场上先进的焊接强度测试仪。Dage4000推拉力测试仪可配置为简单焊线拉力测试仪，也可升级进行锡球剪切力、晶粒剪切力、凸块拉力、矢量拉力或镊钳拉力测试。DAGE4000Optima焊接强度测试机最优化的焊接强度测试机DAGE4000Optima焊接强度测试机是一台最优化的，用于大量生产环境的快速、精确和可靠的焊接测试设备。拥有专利技术的整合和优越的人体工程学，以及智能直观的软件使得4000Optima成为技术先进的生产焊接测试机；提供了重复性和可复现性的测试结果。更快的测试随着快速刀具定位到焊接区来最大化您的产量，优越的人体工程学和快速的测试速度。对于引线拉力和球推力测试，典型的测试时间少于2秒/焊点。优越的精确性获得可重复和可复现的测试结果，并且可以由MSA和GRR研究来保证和认证。良好的灵活性可执行从0.25g到50kg的拉力测试，已及0.25g一直到200kg的剪切力测试。两个多功能电子Cartridge：半导体250g剪切/5kg剪切和100g引线拉力混合电路20kg剪切/1kg拉力和10kg拉力独特的工业先进的多功能Cartridge：确保与4000/4000PlusCartridge的关联性。当机器没有使用时，通过Cartridge窗口,操作员能够很容易的鉴别当前激活的传感器。等待位置”保护传感器位于Cartridge的内部，而不是将其暴露在外导致容易遭到损坏。人体工程学的重量轻的操作手柄用于安全可靠的移动。快速容易互换的独立负载Cartridge。无摩擦拉力以记录真实的负载。专利技术的空气轴承技术用于剪切测试。最低的刀头离轴挠度。密封的负载元件用于高可靠性应用。柔性负载单元用于碰撞检测和可控的负载应用。低负载的自动电磁阻尼器。双重应用校准治具。

NordsonDAGE作为世界知名的电子产品领域的X射线检测系统供应商，已推出第四代超高分辨率离线X射线检测系统——Quadra系列。集成创新性的QuadraNTX射线管和AspireFP探测器，NordsonDAGE将把X射线检测系统的图像分辨率、可靠性、性能和产能提高到一个全新高度。NordsonDAGE始终坚信要为客户提供创新的解决方案，并不断超越自身极限。我们的专家在设计、开发和生产适用于电子行业的X射线检测系统的同时，还独立掌握X射线检测成像链的所有技术。集成企业专利的QuadraNT射线管、AspireFP探测器、Gensys检测软件和QuadraGen高压发生器——Quadra系列是精益求精的一代新产品。DAGEQuadra系列X射线检测系统ØDAGEQuadra5X光检查机ØDAGEQuadra3X光检查机ØDAGEQuadra7X光检查机

矢量网络分析仪校准套件和部件各种同轴和波导校准套件支持多家矢量网络分析仪的型号支持各种校准技术从直流到110GHz单独提供矢量网络分析仪校准套件中的零部件同轴和波导开路、短路、负载、滑动负载、空气线、失配件、适配器机械式和数字式精密同轴连接器质量检查量规高质量测量电缆、无源器件和部件矢量网络分析仪稳幅稳相高精密测量电缆Stability™稳幅稳相测量电缆Utility™高质量常规测量电缆TestEssentials™实验室级同轴适配器ColorConnect™实验室级色标同轴适配器计量级同轴适配器QT3.5mm™快插拔无螺纹同轴适配器航空级波导同轴适配器从直流到110GHz

负载牵引1）Maury负载牵引，2）负载牵引测试3）负载牵引系统4）射频功放的负载牵引5）测量晶体管和放大器的功率和噪声特性的负载牵引系统6）等同于高性能的网络分析仪的有源负载牵引系统7）测量S参数测试10）大信号负载牵引8）射频测试系统9）任意阻抗混合矢量非线性网络系统10）超快带宽带微波有源芯片测度测量建模解决方案11）微波有源芯片测试MT2000高速非线性谐波负载牵引用于表征和分析一键式解决方案（包括：测量和建模软件，阻抗调谐器，负载拉力和噪声参数系统）多路超宽带混合信号输出和频谱分析测量，最高可达500MHz。集成数字调制信号模板可直接输出调制信号它的优势：1）更宽的带宽（500MHz)2）更快校准速度（S参数，AM/PM,IV曲线，大信号负载牵引，ACPR,EVM，时域波形分析等）3）超快的测量速度（一分种上千个测量数据的航空采集和显示，尤其适合于先进复杂的表征功能或者是耗时的重复性测试任务）4）是一台高性能的网络分析仪，可以等同于一台PNA-X大信号网络分析仪与频谱分析仪，示波器，多路宽带信号源和电子式阴抗调器的集成测试解决方案。

1，1-6GHz200W固态功率放大器2,800M-2GHz100W-500W模块，整机3，6-18GHz200W固态功率放大器4，0.7-6GH50W宽带GaN放大器WidebandGaNAmplifiers1，裸功放，功放+散热器+风扇，全功能机箱式整机2，功放整机，功放模块3，裸功放，功放+散热器+风扇，全功能机箱式整机4，功放整机，功放模块功放具体应用：1，EMC测试：传导抗扰度测试系统2，EMC测试：辐射抗扰度测试系统：RS232，GPIB，LAN,USB控制接口。输出功率：1dB压缩点功率输出，饱和功率输出，连续波功率和脉冲功率

6GHz探针T26HP探针T26P40GHz探针T4050GHz探针T5067GHz探针T67110GHz探针T11026GHz探针T26D易捷测试提供MPI高功率探针，Kelvin探针，RF射频探针。MPITITAN™射频探针采用最先进的MEMS叶片与高质量生产制程，提供您最优良的产品与稳定的量测品质。严谨制作的TITAN™射频探针，MEMS叶片均经过特性阻抗50Ohm匹配，拥有优异的电性，满足用户不同频率下获得精准校正结果之需求。MPI独特的专利针尖设计能提供绝佳的点测可视角，同时有效减少接触滑行距离，降低待测物受损面积，实现优异的点测重现性。TITAN™系列射频探针提供单信号及双信号规格、针距范围50μm至1250μm，频率范围26GHz至110GHz可选购。TITAN™射频探针适用于射频、毫米波、至高110GHz电路或连续至高10瓦功率型射频组件的特性描述量测，是您晶圆级S参数量测的最佳选择。从易捷测试能以无与伦比的超实惠价格享用到耐久高性能的射频探针。

光电测试系统，光电探测器测试系统，光子芯片测试，硅光子测试系统，光电调制器，光电探测试器，光功率计，光波元器件分析仪，光接收机，光谱分析，光测试座，光纤探头光衰减器，光采样示波器2，光有源器件，光无源器件，光传输系统1）光电探测器参数自动测试系统为易捷测试专门为PD类光电探测器芯片开发的一套完整集IV、CV、光响应度等测试应用一站式在片测试系统。主要应用于解决PD类芯片的研发和自动化筛选测试。系统集成的源自于易捷测试在光电模块、光电器件到封装以及探针台领域多年的测试经验。2）伴随400G、100G通信的到来，通信中必不可少的O/E、E/O、O/O器件从特征性能都需要极大提高。从芯片到封装好的器件特征必须通过相应的参数来衡量相应的O/E和E/O参数。如3dB带宽、S参数、光波长响应度，接收灵敏度等。该系统就是集成矢网、光调制器、光校准件、探针台，可对O/E，E/O芯片、封装好的器件特征参数进行测试

1）有源芯片测试负载牵引，2）负载牵引测试3）负载牵引系统4）负载牵引技术5）射频功放的负载牵引6）功放负载牵引7）噪声参数测试MT2000高速非线性谐波负载牵引用于表征和分析一键式解决方案（包括：测量和建模软件，阻抗调谐器，负载拉力和噪声参数系统）。多路超宽带混合信号输出和频谱分析测量，最高可达500MHz。集成数字调制信号模板可直接输出调制信号。1）纯有源负载牵引系统2）矢量接收机的负载牵引系统3）低成本的矢量接收机负载牵引系统4）传统的负载牵引系统

（1）大功率探针台2）150mm探针台，3）200mm自动探针台，4）300mm全自动探针台，5）6寸探针台，8寸探针台，12寸探针台，6）探针台在片测试，7）探针台控制软件8）探针台MPI，9）探针台CASCADE10）射频微波探针）易捷测试半导体在片测试系统集成解决方案：1）晶圆级抗X射线辐照系统2）毫米波多功能MMIC自动测试3）射频在片测试4）半导体在片测试系统5）光子芯片在片测试6）EMMI测试系统，7）太赫兹半导体在片测试系统8）可靠性测试9）失效分析10）直流参数测试11）小信号测试12）大信号测试