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  • 产品名称:HanwaESD测试方法_ESD测试设备相关-深圳市易捷测试技术有限公司
  • 产品价格:面议
  • 产品数量:999
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  • 更新日期:2020-06-09
产品说明

ESD(静电放电)测试是在半导体可靠性测试期间进行的 1)HCE-5000 紧凑型ESD测试机  独立的测试系统,深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,携带方便,空间占用率小,HanwaESD测试方法,性价比高  不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试 2)HED-C5000 CDM测试机  符合JEDEC、ESDA、JEITA标准  可快速转换不同标准的测试 3)HED-T5000 TLP测试机
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 用于获取器件保护电路的相关参数特性  为器件升级提供支持,HanwaESD测试方法,缩短产品周期 4)HED-N5000 全自动ESD测试系统  可以测试多达1024pin的器件  占用空间小  适用于ESD测试和latch-up测试,HanwaESD测试方法,符合**新的测试标准 5)HED-W5000M 晶圆ESD测试机  高性价比的晶圆ESD测试方案 6)HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机  **高支持300mm晶圆ESD测试方案  测试效率高  同时支持package测试       深圳市易捷测试技术有限公司,简称易捷测试(GBIT)

供应商信息
深圳市易捷测试技术有限公司
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公司地址:深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A
企业信息
联系人:张女士
手机:18127076421
注册时间: 2010-12-07

联系人:张女士

联系电话:18127076421

邮箱:dongni.zhang@gbit.net.cn

地址:深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A

 
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