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- 公司名称：深圳市易捷测试技术有限公司
- 联系人：张女士
- 手机：18127076421
- 公司地址：深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A
射频测试
- 产品名称：微波射频测试系统_全自动仪器仪表探针-深圳市易捷测试技术有限公司
- 产品价格：面议
- 产品数量：99
- 保质/修期：1
- 保质/修期单位：年
- 更新日期：2021-08-25
产品说明
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。
易捷测试推出了针对于功放芯片以及滤波器模组和收发系统模块的易测软件测试系统，专注于射频微波测试，适用于研发设计，WAT方案，为微电子器件提供在片测试和封装器件测试的系统整合方案，解决了现有全自动机台厂家不提供灵活多样的射频测试方案的问题，完成对可编程控制仪器的控制和数据收集，自定义测试参数，辅助控制在片prober，实现测试配置方案编辑和测试过程分离，集成清晰易用的测试操作流程，定制输出数据报表的格式，兼容不同客户的MES系统接口，实现交钥匙的完成系统解决方案。
从CP到FT的一条龙软件整合和数据共享：从CP测试生成wafer map 开始，wafer
map贯穿后续整个工艺流程，数据可追溯。
全自动一条龙微波在片和封装器件封测系统特点
易捷测试提供
射频在片和封装器件封 全自动品圆在片射频测
测工艺一条龙整合 试系统
迎接射频微波增量器件的封测挑战:
具有灵活的模块化软件架构，易于完成客户定 测试配置方案编辑和测试过程操作界面分离，
制化功能 方便工厂化人员使用
预留通信接口，方便进行二次开发 成熟的系统射频测试解决方案
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。
公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。
从CP到FT的一条龙软件整合和数据共享：从CP测试生成wafer map 开始，wafer
map贯穿后续整个工艺流程，数据可追溯。
全自动一条龙微波在片和封装器件封测系统特点
1，测试数据全线共享，提高效率，微波射频测试系统，减少重复环节，根据需求提供数据分析工具和报表
2，全自动一条龙微波在片和封装器件封测系统特点
3，系统测试链路自动校准标定
4，可以选用高密度PXI设计，实现射频，数字，模拟，电源测控一体化，具备柔性测试能力
5，测试完成后自动分选
6，自动化测试序列的设定
7，全产线设备接口通过ATE打通，实现全参数共享和控制，接轨智能制造
8，通过异步并行的处理方式提高测试效率
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），微波射频测试系统，专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。公司长期与国外多家先进半导体设备公司合作，先后引进美国、欧洲、日本、台湾等厂商设备与技术，同时致力于供应国产自主可控半导体设备，整合国内用户需求，打造国内晶圆级在片测试，半导体封装工艺系统集成的稳定供应链，提供“量体裁衣”定制化改造服务。
公司业务涉及的设备包括：各种微波射频器件，配件（MPI射频探针，探针座，Maury微波校准件，同轴校准和波导校准件，网络分析仪端口线缆，射频微波连接器，衰减器，Maury计量转接器）系统集成，测试仪器。服务产业包括：半导体、材料研究、航天、电子元器件、汽车、光学器件.....等。
[微波射频芯片的测试挑战]
产能的提升，带来测试效率的要求，过往的以工程机台为主的微波射频测试方案，需要切换到以生产型机台为中心的高速测试。
兼顾测试成本，对于中小批量的测试，如果选择传统的探卡测试，测试设置的灵活性弱，射频探卡的成本高，成为制约降低测试效率和成本的因素。
传统的基于台式的网分仪，信号源和频谱仪，占地大，密度低，价格高。
[微波射频芯片的测试挑战]
易捷测试推出了针对于功放芯片以及滤波器模组和收发系统模块的易测软件测试系统，专注于射频微波测试，适用于研发设计，WAT方案，为微电子器件提供在片测试和封装器件测试的系统整合方案，解决了现有全自动机台厂家不提供灵活多样的射频测试方案的问题，完成对可编程控制仪器的控制和数据收集，自定义测试参数，辅助控制在片prober，实现测试配置方案编辑和测试过程分离，集成清晰易用的测试操作流程，定制输出数据报表的格式，兼容不同客户的MES系统接口，实现交钥匙的完成系统解决方案。
易捷测试提供：
射频在片和封装器件封测工艺一条龙整合
全自动晶圆在片射频测试系统
晶圆分拣芯片分选机供应商_全自动仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
WLCSP植球机方案_晶圆仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
晶圆ESD测试失效分析_全自动晶圆仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
稀土氧化物在催化、荧光探针、医疗器械、储能以及水处理等领域都具有广泛而重要的用途。形貌对于稀土氧化物性能有着至关重要的影响，溶剂热是合成纳米结构稀土氧化物非常重要的方法，两亲性嵌段共聚高分子被广泛用作模板分子调控过渡金属氧化物自组装过程以及最终结构。但是目前两亲性嵌段共聚高分子还很少在溶剂热条件下被用作模板分子调控过渡金属氧化物成核生长以及形貌控制，溶剂热条件下两亲性嵌段共聚高分子自组装行为及规律还甚少被研究。
当LEDON引脚上的开关脉冲由逻辑高电平变成低电平或由低电平变成高电平时，可能会在电源Vcc上产生尖峰电压，主要原因是内置的红外LED驱动电路以高电流工作，这个高电流会受到电感影响形成“弹跳与反弹跳”效应，在快速开关过程中造成尖峰电压。感应的电感值可能由芯片内部焊线、外部测试探针甚至是连接到电源的导线产生，由于尖峰电压可能造成芯片发生错误甚至造成损坏，因此加入了CX1和CX2去耦合电容来吸收这些尖峰电压，在这个应用中，建议使用100nF的CX1与6.8μF的CX2。
美国伊利诺伊大学(the University of Illinois)的科学家发明了一种微型LED，其微小程度能够轻易穿过细小的针眼。经实验证明，这一微型 LED 能够通过无线操作，有效进行深度脑部刺激，对神经系统疾病，例如运动障碍等，有一定的疗效。在实验中，研究人员将一根 LED 探针放入老鼠大脑，接着，微波射频测试系统，通过使用光脉冲对老鼠的一部分脑奖赏通路的神经元进行刺激。老鼠在接受了这一 LED 脉冲刺激后，便会花更多时间在 Y 形迷宫里， 就好像它们懂得会在迷宫里得到食物奖励一样。
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