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ESD测试
- 产品名称：静电放电ESD测试标准_Hanwa仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
- 产品价格：面议
- 产品数量：999
- 保质/修期：1
- 保质/修期单位：年
- 更新日期：2021-08-14
产品说明
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
超紧凑型便携式ESD测试机 （HBM，MM，HMM）测试仪
独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比好
不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试
适用于现场测试。配有曲线跟-踪-器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
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2）HED-C5000 CDM测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
符合JEDEC、ESDA、JEITA标准
可快速转换不同标准的测试
台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
配备的CCD摄像机
提供FI-CDM和D-CDM模式。
可以测量每个引脚的电容。
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3）HED-T5000 TLP测试机
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP 测试机
用于获取器件保护电路的相关参数特性
为器件升级提供支持，缩短产品周期
提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
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静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
4）HED-N5000 全自动ESD测试系统
可以测试多达1056 pin的器件
占用空间小
适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,
板上可容纳8个插座。
符合标准（JEDEC，ESDA）与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容
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5）HED-W5000M 晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。
专配软件可用于泄漏测量和判断。
适用于大多数类型的手动探针台。
6）HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
高可支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案
测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试
同时支持package测试
配备CCD相机
可以与Hanwa TLP测试仪，HED-T5000和T5000VF
Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。
SCM（10pF浪涌）选项可用。
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），静电放电ESD测试标准，成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，静电放电ESD测试标准，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
2）HED-N5000全自动ESD测试系统
3）HED-C5000 CDM测试机
4）HED-T5000 TLP测试机
5）HED-W5000M晶圆ESD测试机
6）HED-W51000D 全自动晶圆ESD测试机
纵观数字标牌行业的十多年的发展，数字标牌的行业的边界很难清晰界定，数字标牌本身是系统应用的一部分，未必能独立出来形成为一个强劲的应用系统。在智能化的过程中，数字标牌如何获得未来的发展机遇、赢得新的增长空间？数字标牌产品应该成为互联网的入口，这个入口不单单是数字标牌的未来应用，而应该是具有互动的具体技术，同时具有传递信息和感知环境，成为应用环境感知的探针。随着大数据时代的发展，未来数字标牌未来的发展应用不是单纯的硬件问题，其融合感知、体验、互动所呈现的新附加值将进一步提升。未来数字标牌的大市场值得期待。
12下一页> 相比之下，经典的RT-PCR技术具备操作简便、灵敏度高、特异性好、结果判读简单等优势，已成为临床应用最广的检测方法。在检测通量上，一般认为RT-PCR技术受荧光染料种类限制，静电放电ESD测试标准，不适合多基因检测。然而随着多重荧光PCR技术的发展、一些创新性的探针和引物设计技术的出现，RT-PCR平台已经克服了通量瓶颈。在肿瘤靶向用药检测领域，已有创新性的多种基因联合检测的产品上市，代表性产品有：人类KRAS/NRAS/PIK3CA/BRAF基因突变联合检测试剂盒、人类ALK基因融合和ROS1基因融合联合检测试剂盒等。因此RT-PCR法是目前最易于临床推广的可用于EAR同步检测的检验方法。
卓维煌指出，EMC封装测试具有高电流、高电压、底部测试等特点，“华腾半导体根据EMC的特点专门研发了相应的测试分选机，适用于EMC封装的最新 HT-7900测试分选机已经量产。”卓维煌表示，这款设备也是目前业内推出的首款针对专业EMC封装的测试分选机。“推出这款设备代表着华腾的技术方向 和技术实力，尽管EMC封装工艺还不成熟，但它必定是未来LED封装的一个方向。” 卓维煌介绍，新款设备在测试方式上的创新，突破了传统侧面测试方式，将探针设计在底部，采用底部测试的全新方式。“新的解决方案相比前几代设备在测试精度、测试结果和测试准确度上至少提升了50%，效率也提高了30%。”
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