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ESD测试
- 产品名称：半导体ESD测试仪_全自动晶圆仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
- 产品价格：面议
- 产品数量：999
- 保质/修期：1
- 保质/修期单位：年
- 更新日期：2021-08-14
产品说明
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
4）HED-N5000 全自动ESD测试系统
可以测试多达1056 pin的器件
占用空间小
适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,
板上可容纳8个插座。
符合标准（JEDEC，ESDA）与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容
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5）HED-W5000M 晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。
专配软件可用于泄漏测量和判断。
适用于大多数类型的手动探针台。
6）HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
高可支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案
测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试
同时支持package测试
配备CCD相机
可以与Hanwa TLP测试仪，HED-T5000和T5000VF
Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。
SCM（10pF浪涌）选项可用。
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
2）HED-N5000全自动ESD测试系统
3）HED-C5000 CDM测试机
4）HED-T5000 TLP测试机
5）HED-W5000M晶圆ESD测试机
6）HED-W51000D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
超紧凑型便携式ESD测试机 （HBM，MM，HMM）测试仪
独立的测试系统，携带方便，空间占用率小，性价比好
不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试
适用于现场测试。配有曲线跟-踪-器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
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2）HED-C5000 CDM测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
符合JEDEC、ESDA、JEITA标准
可快速转换不同标准的测试
台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
配备的CCD摄像机
提供FI-CDM和D-CDM模式。
可以测量每个引脚的电容。
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3）HED-T5000 TLP测试机
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP 测试机
用于获取器件保护电路的相关参数特性
为器件升级提供支持，缩短产品周期
提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
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一条近30米长的半地下观察长廊里，一面面玻璃相接，半导体ESD测试仪，走近细看，透过玻璃可以清楚地看到一些植物的根系，玻璃上还留有孔洞；长廊外面的国槐树上，装着一个树干茎流计，三个探针插入树干……这是记者昨日在泰达植物根系调控试验基地看到的情景，也是该基地首次公开亮相。作为国内首个树木根系调控室，自2012年营建以来，该基地已对国槐、法桐两个树种进行两年多生长数据检测、收集、整理，预计将于明后年初步建立针对这两种树种在滨海重盐碱地条件下的生长模型，最终将使园林养护管理更为科学化、精细化、规范化。
由于双链掺入法存在特异性较低的问题，1996年Heid[23]综合之前发现的Taq酶的5'核酸酶活性与荧光共振能量转移(fluorescenceresonance energy transfer，FRET)探针的概念提出了使用Taqman探针进行qPCR的方法。TaqMan探针的本质是FRET寡核苷酸探针，在探针的5'端标记荧光报告基团，3'端标记荧光淬灭基团，利用Taq酶具有5'3'外切酶活性，在PCR过程中水解与靶序列结合的寡核苷酸探针，使荧光基团得以游离，释放荧光信号。从而使能够与靶序列杂交的探针在扩增过程中释放荧光，通过real-timePCR的原理对其进行定量。由于其超高的特异性与成功的商品化推广，半导体ESD测试仪，Taqman探针已经成为目前临床使用最为广泛的qPCR方法，其在各种病毒基因定量检测、基因分型、肿瘤相关基因表达检测等方面具有着不可替代的地位。
当LEDON引脚上的开关脉冲由逻辑高电平变成低电平或由低电平变成高电平时，可能会在电源Vcc上产生尖峰电压，主要原因是内置的红外LED驱动电路以高电流工作，这个高电流会受到电感影响形成“弹跳与反弹跳”效应，在快速开关过程中造成尖峰电压。感应的电感值可能由芯片内部焊线、外部测试探针甚至是连接到电源的导线产生，半导体ESD测试仪，由于尖峰电压可能造成芯片发生错误甚至造成损坏，因此加入了CX1和CX2去耦合电容来吸收这些尖峰电压，在这个应用中，建议使用100nF的CX1与6.8μF的CX2。
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