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  • 产品名称:芯片AOI检查机_wafer-深圳市易捷测试技术有限公司
  • 产品价格:面议
  • 产品数量:999
  • 保质/修期:0
  • 保质/修期单位:
  • 更新日期:2020-07-11
产品说明

深圳市易捷测试技术有限公司,简称易捷测试(GBIT),专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备,并专注于提供给客户完整的系统集成服务 易捷测试提供AOI-wafer光学检查机
XRAY检测供应商_5/7/3仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
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经验丰富的晶圆级AOI技术和供应商 以客户为导向的解决方案,高度灵活性 具有更好COO的2D / 3D解决方案的专享技术 可以集成第三方镜头和传感器进行高测量 1)双相机,几乎同一聚焦面 2)可倾斜相机,加强DOF2D 和 DFF 3)扫描方向很大程度满足用户需求 4)2D,3D激光测量 线扫测量结合 5)AOI-晶圆光学检查机 Handler 标准配备1个Load port,单臂翻转机械手,芯片AOI检查机,预对准模块,目检台和显微镜 兼容8寸和12寸晶圆 标准load port可以对应FOUP,芯片AOI检查机,AutoFOSB自动开盖,具备Mapping功能 高精度运动机构,芯片AOI检查机,低噪音,低尘,无需供油 触摸屏操作,界面友好 对应GEM300,深圳市易捷测试技术有限公司,易捷测试技术,采用SEMI标准软件

供应商信息
深圳市易捷测试技术有限公司
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公司地址:深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A
企业信息
联系人:张女士
手机:18127076421
注册时间: 2010-12-07

联系人:张女士

联系电话:18127076421

邮箱:dongni.zhang@gbit.net.cn

地址:深圳市福田区福虹路世界贸易广场C座1205A

 
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