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- 公司名称：深圳市易捷测试技术有限公司
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ESD测试
- 产品名称：半导体ESD测试失效分析_Hanwa仪器仪表-深圳市易捷测试技术有限公司
- 产品价格：面议
- 产品数量：999
- 保质/修期：1
- 保质/修期单位：年
- 更新日期：2021-08-14
产品说明
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT），成立于2011年，总部设在深圳 ，并在北京、南京、成都等地设有业务网点。易捷测试专业提供半导体晶圆级测试、封装工艺及检测类设备，并专注于提供给客户完整的系统集成服务。易捷测试客户主要涵盖中国具有影响力的研究所、高校和具有研发实力的企业。公司拥有一批在半导体测试领域具有丰富经验的专业技术团队。该团队不仅能为客户提供高质量和多方位的解决方案，也能为客户提供系统化国产化改造服务。
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(>几千伏)，所以这种损伤是毁灭性的，会造成电路直接烧毁。所以预防静电损伤是所有IC设计和制造的头号难题。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
易捷测试提供日本Hanwa主要产品包括：ESD测试仪、CDM测试仪、TLP测试仪、静电放电测试仪、静电图像系统。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
2）HED-N5000全自动ESD测试系统
3）HED-C5000 CDM测试机
4）HED-T5000 TLP测试机
5）HED-W5000M晶圆ESD测试机
6）HED-W51000D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
4）HED-N5000 全自动ESD测试系统
可以测试多达1056 pin的器件
占用空间小
适用于ESD测试和latch-up测试，符合新测试标准,
板上可容纳8个插座。
符合标准（JEDEC，ESDA）与Hanwa S5000和Verifire插座板兼容
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5）HED-W5000M 晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
价格适中的多功能手动晶圆级测试仪。
专配软件可用于泄漏测量和判断。
适用于大多数类型的手动探针台。
6）HED-W5100D 全自动晶圆ESD测试机
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的保障质量都是必不可少的。
高可支持12英寸 300mm晶圆ESD测试方案
测试效率高，自动探针台和晶圆映射程序启用了全自动晶圆级ESD测试
同时支持package测试
配备CCD相机
可以与Hanwa TLP测试仪，HED-T5000和T5000VF
Woks 集成在一起，作为不带插座板的高引脚数封装级测试仪。
SCM（10pF浪涌）选项可用。
ESD（静电放电）测试是在半导体可靠性测试期间进行的。ESD测试对于半导体设计的开发和半导体制造的最终生产过程中的质量稳定都是必不可少的。
静电ESD测试仪器/HBMESD测试设备
Hanwa ESD测试设备主要针对HBM、MM、CDM、TLP等常见模型进行分析。
1）HCE-5000 紧凑型ESD测试机
超紧凑型便携式ESD测试机 （HBM，MM，HMM）测试仪
独立的测试系统，携带方便，半导体ESD测试失效分析，空间占用率小，性价比好
不用搭配其他PC或Curve tracer便可独立完成HBM、MM和漏电测试
适用于现场测试。配有曲线跟-踪-器，用于通过/失败判断，推荐给IC制造商和最终用户。
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2）HED-C5000 CDM测试机
此设备是用来测试接触不同电位物质时的破坏性设备
符合JEDEC、ESDA、JEITA标准
可快速转换不同标准的测试
台式尺寸，紧凑，准确可靠的CDM测试仪。
配备的CCD摄像机
提供FI-CDM和D-CDM模式。
可以测量每个引脚的电容。
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3）HED-T5000 TLP测试机
HED-T5000 |T5000-VF |T5000-HC TLP 测试机
用于获取器件保护电路的相关参数特性
为器件升级提供支持，半导体ESD测试失效分析，缩短产品周期
提供普通和VF（非常快）型号。VF模型提供正常（100nm / 200nm）和VF（1nm-）脉冲宽度。
具有半自动探针台整合功能的可选自动测试可大大提高生产率。
可与HED-W5000，ESD（HBM，MM）测试仪结合使用现在提供大电流输出型号（T5000-HC）。
二代测序技术的出现为肿瘤的易感基因检测、伴随诊断、个性化用药等提供了更佳的技术支撑和选择，尤其是基于NGS的癌症panel检测使得该领域检测可以更加快速和低廉，达到了同时检测若干个基因和突变位点的目的。未来随着基因测序成本的进一步下降，一次性检测大量基因的费用将远远低于多次检测少数基因费用的总和。目前Illumina和Life Tech两大巨头均已经利用自身的NGS平台推出了癌症panel检测，其中Illumina的TruSeq Amplicon Cancer Panel可以检测48个基因、Life Tech的Ion AmpliSeq Panels可以检测50个基因，国内的华大基因也推出了基于NGS的TumorCare Cancer Panel，该检测基于NimbleGen探针杂交捕获测序技术，包含1053个肿瘤相关基因，其中176个基因是有明确用药解读的基因，255个基因是在COSMIC数据库中反复出现的基因，622个基因是在癌症重要通路中出现的基因。
帮助指导肿瘤的精准手术切除，可大大提高患者预后，具有非常重要的临床应用前景。最近科学家开发了一种新型的磁共振/近红外二区荧光双模态成像纳米探针（Gd-Ag2S nanoprobe），该探针由Ag2S近红外量子点及偶联其表面的Gd-DOTA构成，可实现基于Gd的高组织穿透深度磁共振对比增强成像和基于Ag2S量子点的高信噪比、高时空分辨率的近红外二区荧光成像，为神经胶质瘤的术前诊断及术中精准切除提供了一个“可视化”方案。经静脉注射后，由于肿瘤区域丰富的新生血管及EPR效应，实现了原位高对比度脑肿瘤磁共振成像，同时利用Ag2S量子点近红外二区光学特性，实现了神经胶质瘤血管的精确成像和亚毫米尺度微小肿瘤的精确切除。基于这种“Detection”和“Operation”协同策略辨别肉眼无法识别的肿瘤边界，有望为将来的临床脑外科手术提供手术实时导航，实现肿瘤的准确定位和精确手术，减少正常组织和功能损伤。（摘自科讯网）
肿瘤细胞不受控制生长和永生化需要高活性端粒酶的催化，研究人员以金纳米颗粒为载体，设计出表面负载大量特异性双链DNA的球形核酸探针。在端粒酶的催化下，该探针能够释放荧光染料进入细胞质中，使肿瘤细胞发出红色荧光，从而达到肿瘤细胞的可视化检测。通过荧光信号的变化，实现了十几种代表性肿瘤细胞与正常细胞的精确区分、肿瘤细胞恶性程度的鉴别，半导体ESD测试失效分析，以及小鼠肿瘤的活体成像、裸眼可视化和组织切片鉴定等。研究结果表明，这种球形核酸探针是一种理想的肿瘤精准手术导航造影剂。
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